德國P+F(倍加福)傳感器疑難問題解決方案

1、標(biāo)簽紙連續(xù)打印位置不一致

連續(xù)打印時(shí)打印位置不一致的原因，主要是由于紙張?jiān)谕ǖ乐械亩秳?dòng)以及紙本身間隙的不一致，造成傳感器探測的波形的不穩(wěn)定，從而使連續(xù)打印的定位不準(zhǔn)確。解決方法：解決紙張?jiān)谕ǖ乐卸秳?dòng)的問題（特別是小標(biāo)簽）：通過增加緩沖機(jī)構(gòu)，或增加類似斑馬Z4M的傳感器壓緊機(jī)構(gòu)解決。解決標(biāo)簽本身間隙不一致的問題：通過更改固件程序，更改標(biāo)簽定位方式，利用標(biāo)簽間隙后沿定位可以盡量的減小間隙誤差的影響；

2、標(biāo)簽紙襯紙電平不穩(wěn)定

由于紙?jiān)谕ǖ乐凶兓嚯x相對透射傳感器與反射接收器之間設(shè)計(jì)距離變化范圍較大，導(dǎo)致發(fā)光出力變化率大，紙的透光強(qiáng)度變化大，是透射傳感器電平不穩(wěn)定的主要原因，在設(shè)計(jì)過程中，要充分考慮傳感器的檢測范圍和介質(zhì)在通道內(nèi)的抖動(dòng)，使因?yàn)榻橘|(zhì)抖動(dòng)造成的輸出電壓變化過大，造成檢測失誤或無法檢測，如紙?jiān)谕ǖ乐猩舷禄顒?dòng)距離1mm，透射傳感器或反射接收器之間設(shè)計(jì)距離至少為5 mm，電氣參數(shù)設(shè)計(jì)上至少要保證紙的透光強(qiáng)度在10%范圍內(nèi)變化時(shí)，透射傳感器電平在判別電平范圍內(nèi)（無紙和襯紙電壓差大于1V）；

3、熱敏方式打印的標(biāo)志判別時(shí)無法正常識別

熱敏紙上的熱敏材料對紅外光的反射很強(qiáng)，導(dǎo)致傳感器無法識別熱敏打印的黑標(biāo)，由于我們使用的傳感器為紅外光探測器件，而且熱敏紙對紅外光的反射很強(qiáng)，造成被檢測介質(zhì)的其他部分與標(biāo)記部分的反射率差別大大減小，造成標(biāo)記無法正常識別，因此，在傳感器的選擇和使用過程中應(yīng)充分考慮不同介質(zhì)的反光率（透率）的影響；

4、傳感器的老化

光電傳感器由于靈敏度高，發(fā)光管隨時(shí)間溫度等因素，發(fā)光功率會有微弱下降；對接收管而言，若連續(xù)接收反射光時(shí)，其表現(xiàn)的參數(shù)漂移就很大，因此在應(yīng)用光電傳感器時(shí)，在設(shè)計(jì)中盡量避開老化這一問題，如：

①POS機(jī)紙將盡的檢測，平時(shí)有紙時(shí)，光電傳感器接收管是接收不到反射光的，紙將盡時(shí)，紙筒落到紙倉凹槽，光電傳感器接收管才探測到反射光從而報(bào)警；

②采用間歇發(fā)光的方法，當(dāng)檢測傳感器時(shí)才接通發(fā)光管的電源，不檢測時(shí)關(guān)閉發(fā)光管電源，減小發(fā)光管和接收管的老化；

5、傳感器的檢測電壓閾值

不同的傳感器和檢測介質(zhì)，其判別的電壓閾值差別很大，選取切實(shí)可行的判別閾值，對正確檢測不同的介質(zhì)意義重大，二值檢測：此時(shí)應(yīng)使傳感器工作在飽和區(qū)和截至區(qū)，電壓差別大，閾值的選取比較容易，調(diào)整傳感器的負(fù)載電阻，通過簡單的電平識別，即可正確判斷，如紙存在檢測，有中間狀態(tài)的檢測：如標(biāo)簽紙需檢測有紙、無紙和襯紙，此時(shí)應(yīng)使傳感器盡量工作在線性區(qū)，這樣，不同的狀態(tài)變化，其輸出電壓的變化明顯，有利于不同狀態(tài)的判別，這樣可以根據(jù)傳感器在不同狀態(tài)下的光電流和反光率（透光率）變化，選取合適的檢測閾值；

6、傳感器離散性

同樣型號的傳感器在相同的輸入條件下，會因?yàn)槠浔旧淼碾x散性造成輸出的不同，給信號的檢測帶來不利的影響，特別是對工作在放大區(qū)的傳感器有很嚴(yán)重的影響，如SG-23FI，同樣在VCE=5V，IF=10mA時(shí)，其光電流范圍為0.5mA~3mA，相差5倍，為適應(yīng)傳感器的離散性帶來的影響，目前我公司采用的方法：

①加可調(diào)電阻，調(diào)整輸出電壓不滿足要求的傳感器，使其輸出滿足要求，但是給生產(chǎn)增加了難度和成本；

②使用多個(gè)CPU端口切換不同的負(fù)載電阻來適應(yīng)不同的介質(zhì)，需要占用額外的CPU資源，可調(diào)范圍不大，只能改變幾種狀態(tài)；

③使用PWM調(diào)整發(fā)光管電流強(qiáng)度，使傳感器工作在不同的輸出特性曲線，調(diào)整范圍大，但增加了固件的檢測難度。